Внутренние и внешние свойства - Intrinsic and extrinsic properties

О внутренних и внешних свойствах в философии см. Внутренние и внешние свойства (философия).
Не путать с интенсивные и обширные свойства.

В науке и технике внутренний свойство - это свойство указанного субъекта, существующее само по себе или внутри субъекта. An внешний свойство не является существенным или присущим характеризуемому объекту. Например, масса является неотъемлемым свойством любого физический объект, в то время как масса является внешним свойством, которое зависит от силы гравитационного поля, в котором находится объект.

Приложения в науке и технике

В материаловедение, внутреннее свойство не зависит от того, сколько материала присутствует, и не зависит от формы материала, например, одного большого предмета или набора мелких частиц. Внутренние свойства зависят в основном от основного химического состава и структура материала.[1] Внешние свойства различаются в зависимости от наличия химических загрязнителей, которых можно избежать, или структурных дефектов.[2]

В биология, внутренние эффекты происходят изнутри организм или же клетка, например аутоиммунный болезнь или внутренний иммунитет.

В электроника и оптика, внутренние свойства устройств (или систем устройств), как правило, не подвержены влиянию различных типов несущественных дефектов.[3] Такие дефекты могут возникать как следствие недостатков конструкции, производственных ошибок или экстремальных условий эксплуатации и могут вызывать отличительные и часто нежелательные внешние свойства. Идентификация, оптимизация и контроль как внутренних, так и внешних свойств входят в число инженерных задач, необходимых для достижения высокой производительности и надежность современных электрических и оптических систем.[4]

Смотрите также

Рекомендации

  1. ^ Пищевая и упаковочная техника (IFNHH, Университет Мэсси, Новая Зеландия)
  2. ^ Мишра, Умеш и Сингх, Джасприт, Глава 1: Структурные свойства полупроводников. В: Физика и дизайн полупроводниковых устройств, 2008 г., стр. 1-27, Дои:10.1007/978-1-4020-6481-4, ISBN  978-1-4020-6481-4
  3. ^ Суне, Джорди и Ву, Эрнест Ю., Глава 16.Дефекты, связанные с пробоем диэлектрика в затворных диэлектриках на основе SiO2. В: Дефекты в микроэлектронных материалах и устройствах (под редакцией Флитвуда, Дэниела и Шримпфа, Рональда), 2008 г., страницы 465-496, Дои:10.1201/9781420043778, ISBN  9781420043778
  4. ^ Уэда, Осаму и Пиртон, Стивен Дж. Редакторы, Справочник по материалам и надежности полупроводниковых оптических и электронных устройств, 2013 г., Дои:10.1007/978-1-4614-4337-7, ISBN  978-1-4614-4337-7